蔡司高分辨三維X射線顯微鏡Xradia 610 & 620 Vers在科研和工業研究領域為您開啟多樣化應用的新高度。基于高分辨率和襯度成像技術，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亞微米級無損成像的研究界限。
  采用光學加幾何兩級放大成像架構，可實現大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學物鏡耦合技術可實現高襯度和增強的相位襯度成像。基于高分辨率和襯度，蔡司X射線顯微鏡 Xradia 600 系列 Versa 拓展了無損成像的研究界限，提高研究靈活性，加快研究進展。
  創新的數據采集工作流讓您無需對樣品進行切割即可實現對搜索合發現的感興趣區域進行高分辨成像。